Гражданин КНР Юй Лун, работавший в американском исследовательском центре United Technologies, признал себя виновным в краже важных военных технологий и документов и их передаче Китаю. Об этом во вторник, 20 декабря, сообщает РИА Новости со ссылкой на Минюст США.